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測量顯微鏡15J |
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測量顯微鏡15J用途：
測量顯微鏡15J，結構簡單、操作方便和經久耐用，適用范圍廣泛，主要用途如下：
1、坐標中測定長度，例如：孔距、基面距離、刻線寬度、鍵槽寬度、狹縫寬度、內、外圓直徑等。 2、轉動度盤測定角度，例如：樣板、量規鉆孔模板及幾何形狀復雜的零件進行外形和角度測量。 3、用作觀察顯微鏡，以比較法檢查工作表面光潔度、鑒定冶金工業的礦石標本、檢驗纖維及印刷、照相和電子行業的細微作業等。 測量顯微鏡15J規格：
測量工作臺讀數裝置主要規格
X—軸移動測量范圍：50mm Y—軸移動測量范圍：13mm 測微器分度值： 0.01mm 測量臺轉動范圍： 不限 測量臺刻度盤分度范圍： 0°～360° 測量臺刻度盤之分度值： 1° 測量臺刻度盤游標讀數示值： 6′ 測量精度：儀器示值誤差±(5+L/15)μm L 被測件長度，單位mm 儀器示值誤差： 包括測量誤差與儀器系統誤差。 注： 測量地點溫度變化20℃±3℃
主要尺寸：
測量臺與物鏡之間最大距離: 80mm
測量工作臺直徑: 120mm 玻璃工作臺直徑: 80mm 儀器外形尺寸:（l×b×h） 262×220×325mm 儀器重量: 約10.6㎏ |
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