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金相顯微鏡 |
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| 發布日期：2018-11-9 點擊次數：8385次 | ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
金相顯微鏡分類
一、倒置金相顯微鏡
倒置金相顯微鏡操作時試樣觀察表面向下，并與工作臺面平行，與試樣的高度和平行度無關，試樣無須鑲嵌，適合于外形不規則或較大的試樣。 倒置金相顯微鏡可用作金相檢驗、金相分析（鑒別和分析各種金屬和合金材料的組織結構，鑄件質量的鑒定，原材料的檢驗或材料處理后的金相組織分析），以及對表面噴涂、裂紋等進行研究工作。
二、正置金相顯微鏡
正置金相顯微鏡操作時試樣觀察表面向上，并與工作臺面平行，試樣高度有限制，試樣一般經過鑲嵌，適合于外形規則且較小的試樣。 正置金相顯微鏡配有透反射兩種光源，可用于對不透明物體或透明物體的顯微觀察。是生物學、金屬學、礦物學、精密工程學、電子學等研究的理想儀器。
三、工業金相顯微鏡
工業金相顯微鏡帶有同軸落射照明系統，偏光裝置和內切換濾色片，大型移動載物臺，適合電子行業大面積硅晶片，PCB和LCD，柔性電路和薄膜及材料金相檢驗等。帶有明暗場及DIC微分干涉系統的機型,適用于常規狀態難以觀察的和特殊顯微觀察研究。 工業金相顯微鏡是材料，地礦，機械，電子，科研院所和高等院校的常規裝備，并可以升級顯微攝影和圖像處理與分析系統。
四、明暗場金相顯微鏡、微分干涉顯微鏡
暗視場、微分干涉都是對光進行特殊處理后的顯微觀察。暗視場觀察試樣時和明視場下正好相反，用于觀察較強反光試樣的結構組織缺陷等。微分干涉是一種特殊的偏光，可以使物體表面細小的高低差產生明顯的浮雕效果。
五、電腦型金相顯微鏡
電腦型金相顯微鏡是利用圖像采集設備將顯微圖像實時傳輸到電腦，并配有各種輔助軟件工具，保存、測量、標注、比對、合成、分析。用于生成圖文報告、學習交流、研究論文。
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